膜厚仪，又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为电涡流镀层测厚仪、磁感应镀层测厚仪、荧光X射线仪镀层测厚仪。采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。 特点：
1、能够测量无铅焊锡；
2、搭载中心搜索软件；
3、拥有防冲功能；
4、搭载激光对焦系统；
5、搭载测试报告自动生成软件；
6、拥有自动测量软件以及中心搜索软件；
7、配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份；
8、通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
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