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x射线荧光膜厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: x射线荧光膜厚仪
产品型号: X-RAY XDL 210
产品展商: 德国菲希尔
关注指数:15550
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简单介绍
x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

x射线荧光膜厚仪

   的详细介绍
x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210型X 射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。英文FISCHERSCOPE X-RAY XDL。

x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210典型的应用领域有:

测量大规模生产的电镀部件

测量薄镀层,例如装饰铬

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量,如测量印刷线路板

分析电镀溶液

x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。蕞多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。XDL X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210设计理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用的需求。

XDL210:平面样品平台,固定的Z 轴系统

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如大型的线路板。所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成的。XDL 型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法规规定。


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用规范:

用途

能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量组分。

元素范围 蕞多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素设计理念 台式仪器,测量门向上开启

测量方向 从上到下

X 射线源

X 射线源 带铍窗口的钨管

高压 三种高压: 30 kV40 kV50 kV,可调整

孔径(准直器) Ø 0.3 mm (可选:圆形Ø 0.1 mm Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm)

测量点

取决于测量距离及使用 的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。

蕞小的测量点大小约Ø 0.16mm.

测量距离,如测量腔体内部

0 ~ 80 mm,未校准范围,使用专利保护的DCM 功能

0 ~ 20 mm,已校准范围, 使用专利保护的DCM 功能

X 射线探测

X 射线接收器 比例接收器

样品定位

视频显微镜

高分辨 CCD 彩色摄像头, 用于查看测量位置

手动调焦或自动聚焦

十字线刻度和测量点大小经过校准

测量区域照明亮度可调

激光点用于精确定位样品

放大倍数 20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

样品台 XDL 210

设计 固定式样品平台

蕞大移动范围 -

X/Y 平台移动速度 -

X/Y 平台移动重复精度 -

Z 轴移动范围 -

可用样品放置区域 463 x 500 mm

样品蕞大重量 20 kg

样品蕞大高度 155/90/25 mm

激光定位点 -

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210电气参数:

电压,频率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率 蕞大 120 W (不包括计算机)

保护等级 IP40


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210仪器规格:

外部尺寸 x x [mm]570 x 760 x 650

重量 XDL21090 kgXDL22095 kg XDL230105 kgXDL240120 kg

内部测量室尺寸 x x [mm]: 460 x 495 (参考“样品蕞大高度”部分的说明)

环境要求

操作温度 10°C 40°C / 50°F 104°F

储藏或运输温度 0°C 50°C / 32°F 122°F

空气湿度 ≤ 95 %,无结露


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210计算系统:

计算机 带扩展卡的计算机系统

软件

标准: WinFTM® V.6 LIGHT

可选: WinFTM® V.6 BASICPDMSUPER


x射线荧光膜厚仪|x射线荧光测厚仪|x-ray膜厚仪德国菲希尔
FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210执行标准:

CE 合格标准 EN 61010

X 射线标准 DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式许可

安全而保护全面的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV

法规规定。

如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型号。

涂装 相关仪器:涂层漆膜度测电解膜黏度计/度计X线附着微型分光雾影反射率涂膜干时间记录仪标准光源

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